壓敏電阻的失效及劣化
壓敏電阻過電壓在電路系統(tǒng)中頻繁顯現,則壓敏電阻就會頻繁行徑以抑制過電壓幅值和吸收釋放電涌能量,這勢必會招致壓敏電阻器的機能劣化。
按照壓敏電阻器失效后的表現情況來看，可以分成三種常見的失效狀態(tài)：炸裂壓敏電阻器在抑制過電壓時將會發(fā)生陶瓷炸裂現象，非常明顯。
穿孔電阻器的陶瓷外層將會瞬間發(fā)生電擊穿，出現穿孔狀態(tài)。
劣化實物表現為使用萬用表測試壓敏電阻時出現漏電流增大情況，壓敏電壓顯著下降，直至為零。
在壓敏電阻器的應用過程中，當其出現性能劣化時，常見的劣化模式有兩種：
開路模式：開路模式主要發(fā)生在MOV流過遠遠超出自身承受的浪涌電流時，通常表現為氧化鋅壓敏電阻本體炸裂，但這種模式不會引起燃燒現象。
短路模式：短路模式大體上可分為老化失效和暫態(tài)過電壓破壞兩種類型。
壓敏電阻存在著制造缺陷，易發(fā)生早期失效，強度不大的電沖擊的多次作用也會加速老化過程，使老化失效提早出現。
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