壓敏電阻的缺點(diǎn)和損壞形式
壓敏電阻的損壞形式：當(dāng)壓敏電阻在抑制暫態(tài)過(guò)電壓時(shí)能量超過(guò)其額定容量時(shí)，壓敏電阻會(huì)因過(guò)熱而損壞，主要表現(xiàn)為短路、開路。
壓敏電阻在通過(guò)規(guī)定波形的大電流時(shí)其兩端出現(xiàn)的最高峰值電壓。
通流容量：按規(guī)定時(shí)間間隔與次數(shù)在壓敏電阻上施加規(guī)定波形電流后，壓敏電阻參考電壓的變化率仍在規(guī)定范圍內(nèi)所能通過(guò)的最大電流幅值。
泄漏電流：在參考電壓的作用下，壓敏電阻中流過(guò)的電流。
額定工作電壓：允許長(zhǎng)期連續(xù)施加在壓敏電阻兩端的工頻電壓的有效值而壓敏電阻在吸收暫態(tài)過(guò)電壓能量后自身溫度升高，在此電壓下能正常冷卻，不會(huì)發(fā)熱損壞。
壓敏電阻的缺點(diǎn)寄生電容大壓敏電阻具有較大的寄生電容，一般在幾百至幾千微微法的范圍。在高頻信號(hào)系統(tǒng)中會(huì)引起高頻信號(hào)傳輸畸變，從而引起系統(tǒng)正常運(yùn)行。
泄漏電流的存在壓敏電阻的泄漏電流指標(biāo)既關(guān)系到被保護(hù)電子系統(tǒng)的正常運(yùn)行，又關(guān)系到壓敏電阻自身的老化和使用壽命。
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