淺談高壓貼片電容中的損耗角正切
損耗角正切，一種資料本征特性，并不依賴于電容器的幾何尺寸。
損耗角正切對介質(zhì)材料在電子領(lǐng)域中的應用有著非常大的影響。實際使用中往往發(fā)現(xiàn)，介電常數(shù)較低的資料損耗因子也較低。
具有強極化機制的高K資料則同時具有較高的損耗因子。
介質(zhì)損耗的頻率效應
介質(zhì)資料使用的頻率范圍對其極化機制有顯著影響，主要是對資料隨交流電場反轉(zhuǎn)的極化“弛豫”過程或時間延遲而言。
瞬時極化過程弛豫時間短，延時極化過程弛豫時間長。組成陶瓷介質(zhì)的原子和離子中，后者所引起的介質(zhì)損耗更大。當外電場頻率與弛豫過程的時間周期同步時，損耗值最大。
簡而言之，當弛豫時間與外電場周期相差很大時損耗則很小：
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