薄膜電阻常見的失效形式
薄膜電阻常見的失效形式
一、失效機理剖析
電阻器失效機理是多方面的，工作條件或環(huán)境條件下所發(fā)作的各種理化過程是引起電阻器老化的緣由。
1、氧化
氧化是長期起作用的要素（與吸附不同），氧化過程是由電阻體外表開端，逐漸向內部深化。除了貴金屬與合金薄膜電阻外，其他材料的電阻體均會遭到空氣中氧的影響。氧化的結果是阻值升高。電阻膜層愈薄，氧化影響就更明顯。避免氧化的基本措施是密封（金屬、陶瓷、玻璃等無機資料）。采用有機資料（塑料、樹脂等）涂覆和灌封，不能完整避免維護層透濕或透氣，雖能起到延緩氧化或吸附氣體的作用，但也會帶來與有機維護層有關的些新的老化要素。
2、有機維護層的影響
有機維護層構成過程中，放出縮聚作用的揮發(fā)物或溶劑的蒸氣。熱處置過程使局部揮發(fā)物擴散到電阻體中，惹起阻值上升。此過程雖可持續(xù)1~2年，但是顯著影響阻值的時間約為2~8個月，為了保證廢品的阻值穩(wěn)定性，把產品在庫房中放置一段時間再出廠是比擬適合的。
3、機械損傷
電阻的牢靠很大水平上取決于電阻器的機械性能。電阻體、引線帽和引出線等均應具有足夠的機械強度，基體缺陷、引線帽損壞或引線斷裂均可招致電阻器失效。
4、銀電極硫化腐蝕招致開路
脫焊拆卸后的電阻器外觀與X-ray透視發(fā)現(xiàn)電極處斷開。
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