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      首頁電子器件常見問題 多層電容器的失效模式之一機(jī)械應(yīng)力斷裂

      多層電容器的失效模式之一機(jī)械應(yīng)力斷裂

      2021年01月19日15:35 

        抗彎曲能力(機(jī)械應(yīng)力斷裂)

        多層陶瓷電容器的特點(diǎn)是能夠承受較大的壓應(yīng)力,但抗彎曲能力比較差。器件組裝過程中任何可能產(chǎn)生彎曲形變的操作都可能導(dǎo)致器件開裂。

        常見應(yīng)力源有:工藝過程中電路板操作;流轉(zhuǎn)過程中的人、設(shè)備、重力等因素;通孔元器件插入;電路測試,單板分割;電路板安裝;電路板點(diǎn)位鉚接;螺絲安裝等。該類裂紋一般起源于器件上下金屬化端,沿45℃角向器件內(nèi)部擴(kuò)展。該類缺點(diǎn)也是實(shí)際發(fā)生比較多的一種類型缺點(diǎn)。

      電容

        1、產(chǎn)生機(jī)械應(yīng)力因素:

       ?、贉y試探針導(dǎo)致PCB彎曲;

       ?、诔^PCB的彎曲度及對(duì)PCB的破裂式?jīng)_擊;

        ③吸嘴貼裝(貼裝吸嘴下壓壓力過大及下壓距離過深)及定中爪固定造成沖擊;

       ?、苓^多焊錫量(如一端共用焊盤)。

        2、機(jī)械應(yīng)力裂紋產(chǎn)生原理:

        MLCC的陶瓷體是一種脆性材料。如果PCB板受到彎曲時(shí),它會(huì)受到一定的機(jī)械應(yīng)力沖擊。當(dāng)應(yīng)力超過MLCC的瓷體強(qiáng)度時(shí),彎曲裂紋就會(huì)出現(xiàn)。因此,這種彎曲造成的裂紋只出現(xiàn)在焊接之后。

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